Вспышка Sony HVL-F32M

ТОНКАЯ, КОМПАКТНАЯ И ЛЕГКАЯ ВСПЫШКА

Компактную и легкую вспышку высокой мощности в тонком корпусе удобно брать с собой. Она идеально подходит для камер с байонетом E и обладает ведущим числом 32 (GN32). Ее удобно использовать для повседневной съемки и просто носить с собой благодаря плоской конструкции.

ОТРАЖЕННЫЙ СВЕТ ВСПЫШКИ ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПЛОТНОСТИ ТЕНЕЙ

Благодаря использованию метода отраженной вспышки можно снизить интенсивность теней и создать эффект более мягкого освещения.

• Регулировка панорамирования на 180° вправо и 90° влево
• Регулировка наклона на 90° вверх и 8° вниз
• Съемка с отраженной вспышкой возможна, даже если камера удерживается в вертикальном положении

НАСТРОЙКИ ВСПЫШКИ ВСЕГДА ПОД РУКОЙ

Режим и настройки интенсивности вспышки отображаются на ЖК-панели, а при низком уровне оставшегося заряда также выводится предупреждающее сообщение.

ПЫЛЕВЛАГОЗАЩИЩЕННАЯ КОНСТРУКЦИЯ

Специально разработанные герметизирующие вставки на стыках корпуса вспышки, ЖК-панели, ножки крепления и подвижных частях обеспечивают максимальную надежность работы вспышки даже в самых сложных условиях съемки, защищая от воздействия пыли и влаги.

СТАНДАРТНЫЕ ФУНКЦИИ ДЛЯ РЕАЛИЗАЦИИ НЕСТАНДАРТНЫХ СХЕМ ОСВЕЩЕНИЯ

Настройка идеального сочетания параметров скорости затвора и мощности вспышки для достижения точных результатов, которые соответствуют творческому замыслу.

• Беспроводная / удаленная скоростная синхронизация
  Съемку со вспышкой можно выполнять, даже если модуль вспышки отсоединен от камеры. Это позволяет создавать интересные эффекты с тенями и достигать большей глубины и объема в кадре.
• Высокоскоростная синхронизация (HSS)
  Синхронизация вспышки с высокоскоростным затвором в автоматическом режиме. Поддержка любой скорости затвора и беспроводного управления.
• Продвинутая система измерения расстояния (ADI)
  Алгоритм ADI позволяет получать точные данные о расстоянии между объективом и объектом съемки благодаря использованию метода TTL-замера и точно регулировать уровень мощности вспышки вне зависимости от отражающей способности объектов в кадре.